[发明专利]面部残留物检测方法及相关设备有效
| 申请号： | 202010105428.8 | 申请日： | 2020-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN111325732B | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 王晶 | 申请（专利权）人： | 深圳数联天下智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/90;A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276 | 代理人： | 王广涛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供面部残留物检测方法及相关设备，其中，方法包括：获取经放大测肤仪器基于紫外光成像采集到的面部放大紫光图像；将所述面部放大紫光图像输入至面部残留物检测模型，以获取所述面部放大紫光图像对应的面部中的残留疑似物，以及所述残留疑似物在所述面部放大紫光图像中的位置；根据所述残留疑似物在所述面部放大紫光图像中的位置，在所述面部放大紫光图像中截取所述残留疑似物对应的局部图像；在根据所述局部图像确定所述残留疑似物符合预设的颜色条件和预设的形状条件的情况下，确定所述残留疑似物为所述面部中的残留物。通过该技术方案，可以实现对面部残留物的检测，并提高面部中残留物检测的精准度和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 面部 残留物 检测 方法 相关 设备 | ||
【主权项】：
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