[发明专利]掩膜板、TFT的制备方法、TFT及阵列基板在审
申请号: | 202010108392.9 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN111308850A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 常新园;何亚玲;代科;莫再隆 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G02F1/1362;H01L21/28;H01L21/336;H01L29/417;H01L29/786 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 郭栋梁 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了一种掩膜板、TFT的制备方法、TFT及阵列基板,方法包括依次形成有源层、第一栅绝缘层、第一栅极层、第二栅绝缘层、第二栅极层及平坦化的层间绝缘层;在层间绝缘层上形成光刻胶,对第一区域位置的光刻胶半曝光,对第二区域位置的光刻胶全曝光,并去除被曝光的光刻胶;在第一区域位置刻蚀层间绝缘层预定深度形成线槽,在第二区域位置刻蚀延伸至有源层的过孔;在所述层间绝缘层上形成第一金属薄膜,研磨所述第一金属薄膜至暴露所述层间绝缘层。本方案中在形成过第一金属薄膜后,通过研磨的方式形成源漏极图案,克服了干法刻蚀的缺陷,提高了产品良率,此外,源漏极图案精度高,可以降低串扰。 | ||
搜索关键词: | 掩膜板 tft 制备 方法 阵列 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
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G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备