[发明专利]集成电路电磁发生干扰分析仪在审

专利信息
申请号: 202010110501.0 申请日: 2020-02-24
公开(公告)号: CN111398776A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 郑益民;王逸晨;方旭 申请(专利权)人: 浙江诺益科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310000 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了集成电路电磁发生干扰分析仪,包括静电放电模块、快速群脉冲模块、射频传导发生模块以及通讯接口,所述静电放电模块的输出端与快速群脉冲模块的输入端连接,所述快速群脉冲模块的输出端与射频传导发生模块的输入端连接,所述射频传导发生模块的输出端与通讯接口的输入端连接,所述射频传导发生模块包括信号发生器、功率放大器、耦合网络以及IC端,所述信号发生器的输出端与功率放大器的输入端连接。该集成电路电磁发生干扰分析仪,通过静电放电模块和快速群脉冲模块的设计,使得本产品能够采用特殊供电方式,其实际输出电压均可从0V开始逐步往上升,可以实现更多的测试等级,满足不同被测品的供电电压。
搜索关键词: 集成电路 电磁 发生 干扰 分析
【主权项】:
暂无信息
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