[发明专利]一种材料中第二相颗粒的定量统计表征方法有效
| 申请号： | 202010114195.8 | 申请日： | 2020-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN111289542B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 张淑兰;王昌;张超;王辉;张晓丹 | 申请（专利权）人： | 钢铁研究总院 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/2251;G01Q30/04;G01Q60/24;G06T7/62 |
| 代理公司： | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 | 代理人： | 刘春成;荣红颖 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于材料中微观组织分析定量表征检测领域，涉及一种材料中第二相颗粒的定量统计表征方法，所述方法包括：第二相颗粒尺寸的预估步骤；所需表征的第二相颗粒的图像采集步骤：根据预估出的所需表征的第二相颗粒尺寸选择图像采集设备，并利用所述图像采集设备对材料样品进行内部微观组织形貌图像采集；统计分析步骤：对所述图像采集步骤采集到的图像进行定量统计分析，得到所需表征的第二相颗粒的定量统计表征结果。本发明方法对任何类型的第二相颗粒均适用，具有普适性，可实现第二相颗粒数量、最大尺寸、平均尺寸及第二相颗粒面积的定量统计测量，为定量建立析出相特征参数与力学性能之间的关系以及微观结构转变机制提供依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 第二 颗粒 定量 统计 表征 方法 | ||
【主权项】：
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