[发明专利]冷热冲击测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 202010116819.X 申请日: 2020-02-25
公开(公告)号: CN113376048A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 张汝京;蒋小金;孙明圣 申请(专利权)人: 芯恩(青岛)集成电路有限公司
主分类号: G01N3/60 分类号: G01N3/60;G01N3/02
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 266000 山东省青岛市*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种冷热冲击测试装置及方法。该装置包括腔体、真空泵及驱动单元;真空泵与腔体相连通,用于使腔体在工作过程中保持真空;腔体包括冷冲击室、热冲击室及样品承载室,冷冲击室和热冲击室位于样品承载室的两侧;样品承载室内设置有用于承载测试样品的样品承载盘,驱动单元与样品承载盘相连接,用于驱动样品承载盘,以将测试样品送至冷冲击室和/或热冲击室进行冲击测试。采用本发明的冷热冲击测试装置可在真空环境下进行冷热冲击测试,有助于降低功率损耗,提高测试效率及设备产出率,降低生产成本。依本发明的冷热冲击测试装置进行的冷热冲击测试方法操作简单,有助于提高测试精度及效率。
搜索关键词: 冷热 冲击 测试 装置 方法
【主权项】:
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