[发明专利]一种用于IC器件测试的冷却系统及其制造方法和使用方法在审
| 申请号： | 202010116845.2 | 申请日： | 2020-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN113376499A | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 吴向葵;韩勇 | 申请（专利权）人： | 5Dots科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01L23/467;H01L23/473 |
| 代理公司： | 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 | 代理人： | 何葆芳 |
| 地址： | 新加坡宏茂桥第５大道*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于IC器件测试的冷却系统及其制造方法和使用方法，所述的冷却系统包括：一个用于冷却所述IC器件的冷却机构；一个用于保持所述冷却机构的保持机构；一个循环器，配置为使传热液体与所述冷却机构相连通；和一个连接到所述循环器的散热装置；其中，所述冷却机构、保持机构和循环器具有紧凑结构。本申请所述的冷却系统具有紧凑结构，能适合在有限的安装空间中工作和满足现代IC器件的微型化要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 ic 器件 测试 冷却系统 及其 制造 方法 使用方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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