[发明专利]一种测试机延迟补偿方法、系统及测试机在审
| 申请号： | 202010117178.X | 申请日： | 2020-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN111352019A | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 梁建;罗雄科 | 申请（专利权）人： | 上海泽丰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F17/18;H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 刘秋香 |
| 地址： | 200233 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试机延迟补偿方法、系统及测试机。其中，测试机中用于对外连接的各信号管脚处于开路状态；每个信号管脚通过其所在的信号线与测试机芯片的一个芯片管脚电连接；延迟补偿方法包括：测试机芯片向信号管脚发送测试信号；测试信号传输至信号管脚处后，沿着相反的方向反射回测试机芯片；测试机芯片接收信号管脚反射回的测试反射信号；测试机芯片根据测试信号、及测试反射信号，获取信号管脚的传输延迟；测试机芯片从各信号管脚的传输延迟数据中，选取时间最长的传输延迟作为延迟参考；测试机芯片根据延迟参考，补偿各信号管脚的信号延迟。本发明保证测试机内部芯片输出到各信号管脚(测试机与测试板连接处)等延迟，具备相同时序。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 延迟 补偿 方法 系统 | ||
【主权项】：
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