[发明专利]一种半导体器件及其制作方法有效
申请号: | 202010119889.0 | 申请日: | 2020-02-26 |
公开(公告)号: | CN111216034B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 汪宁;苏永波;丁芃;王大海;金智 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | B24B37/005 | 分类号: | B24B37/005;B24B37/04;B24B37/10;B24B37/14;B24B37/27;H01L21/306 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 温可睿 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供一种半导体器件及其制作方法,所述制作方法包括:采用GaSb晶圆作为衬底,在正面电路结构已经完成的情况下,对GaSb晶圆背面进行减薄时,采用第一磨盘和研磨液进行减薄,其中,第一磨盘上设置有碳化钨涂层,通过碳化钨涂层对GaSb晶圆的表面进行研磨,由于碳化钨与GaSb晶圆之间,不只是物理研磨,还包括化学反应,且碳化钨涂层的颗粒粒径在纳米级别,因此,对GaSb晶圆进行处理的减薄过程与抛光过程合二为一,从而能够减少减薄后抛光的过程,无需对厚度和误差进行再次进行修整和去除,从而减少了工艺过程,通过一体化减薄和抛光过程,即可达到传统意义上的镜面抛光要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
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