[发明专利]一种半导体器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202010119889.0 申请日: 2020-02-26
公开(公告)号: CN111216034B 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 汪宁;苏永波;丁芃;王大海;金智 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: B24B37/005 分类号: B24B37/005;B24B37/04;B24B37/10;B24B37/14;B24B37/27;H01L21/306
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 温可睿
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种半导体器件及其制作方法,所述制作方法包括:采用GaSb晶圆作为衬底,在正面电路结构已经完成的情况下,对GaSb晶圆背面进行减薄时,采用第一磨盘和研磨液进行减薄,其中,第一磨盘上设置有碳化钨涂层,通过碳化钨涂层对GaSb晶圆的表面进行研磨,由于碳化钨与GaSb晶圆之间,不只是物理研磨,还包括化学反应,且碳化钨涂层的颗粒粒径在纳米级别,因此,对GaSb晶圆进行处理的减薄过程与抛光过程合二为一,从而能够减少减薄后抛光的过程,无需对厚度和误差进行再次进行修整和去除,从而减少了工艺过程,通过一体化减薄和抛光过程,即可达到传统意义上的镜面抛光要求。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
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