[发明专利]像素电路、发光器件老化的检测补偿方法及显示基板在审
| 申请号： | 202010128180.7 | 申请日： | 2020-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN111312129A | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 王铸;于子阳;胡谦;李嵬卿 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/3225 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例提供一种像素电路、发光器件老化的检测补偿方法及显示基板，可以解决因OLED器件老化而导致屏幕显示画面不均问题。所述像素电路包括像素驱动电路、检测电路、重置电路以及发光器件。像素驱动电路与栅线、数据线、发光信号线以及发光器件分别连接，配置为驱动发光器件发光。检测电路与发光器件、检测信号线和读取信号线分别连接，配置为读取发光器件在发光状态下的阳极电位，并传输至读取信号线。重置电路与重置信号线、读取信号线分别连接，对读取信号线进行重置。本公开实施例提供的像素电路、发光器件老化的检测补偿方法及显示基板用于对发光器件进行老化信息检测及老化补偿。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 电路 发光 器件 老化 检测 补偿 方法 显示 | ||
【主权项】：
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