[发明专利]射频测试系统线损测量设备及方法在审
| 申请号： | 202010130952.0 | 申请日： | 2020-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN113325243A | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 崔康;杜军红;汤肖迅 | 申请（专利权）人： | 上海龙旗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R29/08 |
| 代理公司： | 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 | 代理人： | 王奎宇;甘章乖 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种射频测试系统线损测量设备及方法，通过将整个射频测试系统的线路系统的两端分别接到所述网分的两个端口所连接的第一标准线上，测量并记录所述线路系统的线损值LossArray_Cable；将第二标准线的一端连接所述网分，将第二标准线的另一端连接到安捷伦的功率计的测量探头上，控制所述网分发射第一信号，从所述安捷伦的功率计读取第一信号值，记为LossArray_PowerMeter；将安捷伦的功率计的测量探头接到综测仪的测量端口上，控制综测仪发射的第二信号，从所述功率计端读取第二信号值作为LossArray_Base，用LossArray_Base减去LossArray_PowerMeter得到LossArray_InterLoss；根据如下公式LossArray_Cable+LossArray_InterLoss计算整个射频测试系统的线损值，实现简单、高效、可靠的对射频测试系统的线损值进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 测试 系统 测量 设备 方法 | ||
【主权项】：
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