[发明专利]运放测试系统和方法在审
| 申请号： | 202010135309.7 | 申请日： | 2020-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN111220901A | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 姜祎春;袁琰 | 申请（专利权）人： | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 张书涛 |
| 地址： | 100071 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种运放测试系统及方法。运放测试系统包括待测运算放大器、辅助测试环路、第一电容采样单元、第二电容采样单元和计算单元。辅助测试环路用于在测试阶段采样并记录采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压；第一电容采样单元用于接收低电平电压信号和共模电压信号，并提供给待测运算放大器的反相输入端；第二电容采样单元第二电容采样单元的第一输入端接地，第二电容采样单元用于接收低电平电压信号和共模电压信号，并提供给待测运算放大器的同相输入端；计算单元用于接收待测运算放大器的输出电压，并根据多个采样点的时间坐标和待测运算放大器的输出电压计算待测运算放大器的偏置电流。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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