[发明专利]成像芯片动态性能分析系统及方法

摘要

本发明公开一种成像芯片动态性能分析系统及方法，包括：成像芯片选取模块用于供用户搜索和选取成像芯片的厂家和型号；成像芯片参数设置模块用于供用户对选取成像芯片的分辨率、像素大小、尺寸、帧率、芯片构装、像素数量、灵敏度参数进行设置；成像芯片模型显示模块用于显示选取的成像芯片的3D数据模型及成像芯片介绍信息；动态性能分析模块用于供用户设置空间频率的上下阈值和计算间隔，根据设置的选取的成像芯片参数和空间频率的上下阈值和计算间隔，计算得到MTF曲线。本发明可方便的调用各类参数，支持性能计算过程中的参数设置功能，实现性能计算的模板化、自动化和智能化，计算界面统一化功能，是实现成像芯片性能计算的最佳解决方案。