[发明专利]IGBT器件开路和短路检测方法、系统和存储介质在审
| 申请号： | 202010139673.0 | 申请日： | 2020-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN111398763A | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 李博强;韩聪 | 申请（专利权）人： | 广东芯聚能半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 黎扬鹏 |
| 地址： | 511458 广东省广州市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了IGBT器件开路和短路检测方法、系统和存储介质，所述方法包括以下步骤：获取IGBT器件的电参数；根据所述电参数判断IGBT器件外部的短路故障；根据所述电参数判断IGBT器件外部的开路故障。本发明通过测量IGBT的电参数对IGBT外部电路的短路和开路故障进行判定，从而使得故障分析人员能够根据分析结果更快地定位故障，提高故障定位效率。本发明可广泛应用于IGBT检测技术领域中。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 器件 开路 短路 检测 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
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