[发明专利]一种芯片上电死机的调试系统及方法有效
| 申请号： | 202010150697.6 | 申请日： | 2020-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN111289885B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 亓磊 | 申请（专利权）人： | 湖南国科微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 刘奕 |
| 地址： | 410131 湖南省长沙市*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片上电死机的调试系统及方法，用于解决芯片上电死机时调试的可实现性，并且节约了调试成本。调试系统包括：引导引脚配置模块、调试多路选择模块、锁存模块及调试模块；引导引脚配置模块通过引导引脚与调试多路选择模块的控制端及锁存模块连接，锁存模块与调试模块连接；引导引脚配置模块用于在芯片发生上电死机进入调试模式时，配置引导引脚的电平信息，控制调试多路选择模块建立调试通路；锁存模块用于在芯片进行复位过程时，锁存引导引脚的电平信息；调试模块用于当芯片进入正常工作模式时，从锁存模块获取引导引脚的电平信息，根据引导引脚的电平信息确定调试通路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 死机 调试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南国科微电子股份有限公司，未经湖南国科微电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010150697.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
