[发明专利]晶圆测试的异常数据聚类方法、装置、电子设备与介质

摘要

本发明提供了一种晶圆测试的异常数据聚类方法、装置、电子设备与介质，其中的异常数据聚类方法，包括：获取待聚类异常数据；所述待聚类异常数据包括多个样本，每个样本包括多个参数，每个参数包括多个电流数据，其中，不同样本对应于不同的待测实体，同一样本中的不同参数对应于所实施的不同种类的测试，同一参数中的不同电流数据对应于实施测试时所施加的不同电压；针对于每个参数，对所述多个样本中该参数的电流数据进行一次聚类，得到每个样本中每个参数的参数标签；根据各样本中的参数标签，对所述多个样本进行二次聚类，得到每个样本的样本标签。