[发明专利]一种优化SAR ADC中电容阵列冗余权重的算法在审

专利信息
申请号: 202010160727.1 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN111555756A 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 罗志国;李俊;夏建宝;高龙辉;危长明;陈良生 申请(专利权)人: 上海胤祺集成电路有限公司
主分类号: H03M1/38 分类号: H03M1/38
代理公司: 上海海贝律师事务所 31301 代理人: 范海燕
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种优化SAR ADC中电容阵列冗余权重的算法,该算法包括如下步骤:S1,根据所设计的ADC的位数n,选择CX、CL、CB、CM的取值区间;S2,定义判决条件1:2≤WL–2*W1M≤6;S3,定义判决条件2:W=2n;S4,根据判决条件1和定义判决条件2,对CX、CL、CB、CM在取值区间内进行扫描,即可得到CX、CL、CB、CM的取值。本发明,可用于需要高速高精度逐次逼近式模数转换器的芯片设计中。经该算法所优化的冗余电容阵列,可以放宽对DAC中相邻位电容匹配和寄生的要求,降低对比较器速度的要求,为各次比较提供足够的冗余空间,从而消除由电容不匹配引起的静态非线性误差和比较器速度引起的动态误差。在高速高精度逐次逼近式模数转换器设计领域有独到的优势。
搜索关键词: 一种 优化 sar adc 电容 阵列 冗余 权重 算法
【主权项】:
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