[发明专利]一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置在审
| 申请号： | 202010162318.5 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN111272810A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 陈剑洪;陈余良;杨美玉;庄子哲;刘跃军;钟海长;郑伟 | 申请（专利权）人： | 厦门理工学院 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 泉州劲翔专利事务所(普通合伙) 35216 | 代理人： | 许珠珍 |
| 地址： | 361000 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及辐射制冷技术领域，尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置，包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置，所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口，所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管，所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内，所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面，所述金属罐体的底部为平面。本发明结构简单，构造巧妙，制作成本低，密封性良好，可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试，降低测试成本，提高测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 制冷 薄膜 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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