[发明专利]集成电路器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010176255.9 申请日: 2020-03-13
公开(公告)号: CN111968969A 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 金元洪;姜泌圭;佐佐木雄一朗;林圣根;河龙湖;玄尚镇;金国桓;吴承河 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/088;H01L23/48;H01L23/535;H01L21/762
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜;赵莎
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种集成电路器件及其制造方法。所述集成电路器件包括:嵌入绝缘层;半导体层,位于所述嵌入绝缘层上,所述半导体层具有主表面和从所述主表面突出以在第一水平方向上延伸且彼此平行的多个鳍型有源区;分隔绝缘层,将所述半导体层分隔成在与所述第一水平方向相交的第二水平方向上彼此相邻的至少两个元件区域;位于所述多个鳍型有源区上的源极/漏极区;第一导电插塞,位于所述源极/漏极区上并电连接到所述源极/漏极区;掩埋轨道,穿过所述分隔绝缘层和所述半导体层同时电连接到所述第一导电插塞;以及电力输送结构,布置在所述嵌入绝缘层中,所述电力输送结构与所述掩埋轨道接触并电连接到所述掩埋轨道。
搜索关键词: 集成电路 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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