[发明专利]膏体外观缺陷检测设备及方法在审
| 申请号： | 202010187095.8 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN111239142A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 田光亚 | 申请（专利权）人： | 中科创达软件股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/894;G01N21/89;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙) 11706 | 代理人： | 陈龙 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区清华东*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例中提供了一种膏体外观缺陷检测设备及方法，属于产品检测技术领域，该设备包括：传送装置，所述传送装置用户用于在指定方向上运送膏体；第一触发传感器，所述第一触发传感器设置在所述传送装置的第一位置，用于在第一位置检测所述膏体是否到达；第一摄像机、第二摄像机和第五摄像机；第二触发传感器；第三摄像机和第四摄像机，所述第三摄像机和所述第四摄像机用于在第二位置对所述膏体在水平方向上进行拍摄；缺陷检测处理器，所述缺陷检测处理器通过所述第一摄像机、所述第二摄像机、所述第三摄像机、所述第四摄像机及所述第五摄像机拍摄的图像判断所述膏体是否存在外观缺陷。通过本公开的处理方案，能够自动检测膏体外观是否存在缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 体外 缺陷 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
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