[发明专利]一种薄膜电阻器结构及制备方法在审

专利信息
申请号: 202010187840.9 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN111261348A 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 徐建卫;徐艳;汪鹏;叶宇诚 申请(专利权)人: 上海矽安光电科技有限公司
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;H01C7/22;H01C1/012;H01C1/02;H01C1/14;H01C17/00;H01C17/02;H01C17/28
代理公司: 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 代理人: 王奎宇;杨孟娟
地址: 200233 上海市徐汇*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种薄膜电阻器结构及制备方法,该薄膜电阻器结构包括:绝缘衬底,电阻层,其分布在绝缘衬底的表面;绝缘层,其覆盖在电阻层上且预留通孔;以及金属电极层,其分布在绝缘层上并通过通孔与电阻层连接。该制备方法,包括:采用光刻和等离子刻蚀的工艺,在绝缘衬底上形成电阻层;采用溅射工艺,在电阻层上溅射绝缘层;利用光刻和二氧化硅湿法腐蚀工艺,在绝缘层上开至少两个通孔;通过光刻和金属层剥离的工艺,在绝缘层及通孔内覆盖金属电极层,通过通孔使得金属电极层与电阻层连接。本申请薄膜电阻器结构具有小尺寸、高阻值,其中的电阻层有绝缘层覆盖,使电阻层与外部环境隔离,提高了薄膜电阻器结构的可靠性。
搜索关键词: 一种 薄膜 电阻器 结构 制备 方法
【主权项】:
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