[发明专利]具有分层微/纳米结构的表面增强拉曼底物及其检测方法有效
| 申请号： | 202010194606.9 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111175285B | 公开（公告）日： | 2022-06-07 |
| 发明（设计）人： | 李晓红;程辉;李国强;肖林;方佳浩;唐晓轩;马浩宇;李青山;谭诗莹 | 申请（专利权）人： | 西南科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 成都中玺知识产权代理有限公司 51233 | 代理人： | 邢伟;熊礼 |
| 地址： | 621000 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明提供了一种具有分层微/纳米结构的表面增强拉曼底物及其检测方法，所述表面增强拉曼底物包括具有微坑阵列的半导体基板和沉积在所述半导体基板的微坑阵列上的厚度为40～300nm的银薄膜，其中，所述微坑阵列是通过纳秒到飞秒的激光脉冲照射半导体基板形成，微坑阵列中每个微坑的直径为10～20μm，且任意两个相邻微坑的外边缘之间的距离不超过所述直径的1/6，微坑阵列具有粒径为40～90nm的多个纳米凸起点。本发明具有良好的润湿性，接触角约为150°同时表面增强拉曼散射的增强因子可以达到1.3×10 |
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| 搜索关键词： | 具有 分层 纳米 结构 表面 增强 拉曼底物 及其 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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