[发明专利]一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法有效
| 申请号： | 202010195055.8 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111366811B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 唐新磊;孙永滨;林磊;朱剑;吴瑶;李强;吕秀红 | 申请（专利权）人： | 北京广利核系统工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 李明里 |
| 地址： | 100094 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法，属于元器件检测技术领域；装置包括SMD器件备检单元和插装器件备检单元，控制器和自动检验仪器；控制器用于识别SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件；控制备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验；SMD器件备检单元用于安装备检的SMD盘件，在控制器的控制下，依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器；插装器件备检单元用于安装多个备检的插装器件，在控制器的控制下，将多个插装器件并行连接到自动检验仪器。本发明可自动检验SMD电阻、电容，插装二极管、三极管器件等，缩短了检验时间，降低破坏整盘器件造成浪费资源的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 集成 自动 检验 装置 方法 | ||
【主权项】：
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