[发明专利]一种Y波导参数测量仪、测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 202010201236.7 | 申请日： | 2020-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN111337052A | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 刘凡;李建光;刘东伟;王强龙;肖浩;刘博阳;雷军 | 申请（专利权）人： | 北京世维通光智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01M11/02;G02B6/26;G02B6/27 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 065201 河北省廊坊市三河市燕*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种Y波导参数测量仪、测量系统及测量方法。所述Y波导参数测量仪包括：光源、可调光衰减器、环形器、光探测器、光路变换装置和上位机。光源的输出端连接可调光衰减器的输入端，可调光衰减器的输出端连接环形器的第一端口；环形器的第二端口连接待测Y波导的主干的一端；主干的另一端与待测Y波导的第一分叉的一端和待测Y波导的第二分叉的一端连接；第一分叉的另一端连接光路变换装置的第一端口；第二分叉的另一端连接光路变换装置的第二端口；环形器的第三端口连接光探测器的输入端；光探测器的输出端连接上位机。本发明基于传统萨格纳克干涉仪的测量方法，实现多参量测量，且测量步骤简单、成本大幅度低，一键式全自动测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波导 参数 测量仪 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
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