[发明专利]测试系统和测试头在审
申请号: | 202010205723.0 | 申请日: | 2020-03-23 |
公开(公告)号: | CN111766491A | 公开(公告)日: | 2020-10-13 |
发明(设计)人: | 泷田伸幸 | 申请(专利权)人: | 新东工业株式会社 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/28 |
代理公司: | 北京市中伦律师事务所 11410 | 代理人: | 杨黎峰;姜香丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种测试系统和测试头,实现了与常规测试系统相比布线工时更少的测试系统。测试系统(1)包括集成控制器(18)、测量电路(11)、驱动器(13、14)、AD转换器(15)、截止控制器(16)、以及动态特性控制器(17)。测量电路(11)和将从包括在测量电路(11)中的传感器(11p1、11p2、11n1、11n2)输出的模拟信号转换成数字信号的AD转换器(15)被内置于测试头(10)中。 | ||
搜索关键词: | 测试 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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