[发明专利]一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件在审
| 申请号： | 202010205845.X | 申请日： | 2020-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN111220273A | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 罗先刚;马晓亮;蒲明博;李雄;申宜佳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于介质结构的多波长消色差超表面偏振测量器件，包括至下而上的一层介质衬底和介质柱结构，其中上层介质柱结构由变宽度和变旋转角度的纳米柱结构构成。本发明设计巧妙，结构简单，通过变宽度介质柱结构，可实现对电磁波高效率调控。本发明可用于设计消色差透镜、偏振测量、成像等超表面功能器件，对推进超表面的实用化具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 介质 结构 波长 色差 表面 偏振 测量 器件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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