[发明专利]基于FPGA的高速DDR单粒子效应评估系统及方法在审
| 申请号： | 202010212333.6 | 申请日： | 2020-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN111444662A | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 蔡畅;柯凌云;刘郁竹;孔洁;陈金达;叶兵;贺泽;刘杰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 冀志华 |
| 地址： | 730000 *** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于FPGA的高速DDR4单粒子效应评估系统及方法，其包括：待测DDR4、高能辐照实验终端或脉冲激光辐照平台和单粒子测试系统；待测DDR4有源区处于高能辐照实验终端或脉冲激光辐照平台的中心位置，待测DDR4与单粒子测试系统实时通信；单粒子测试系统的下位机系统用于根据上位机系统发送的指令对待测DDR4进行读写操作，并将待测DDR4的回读数据发送到上位机系统；上位机系统用于完成发布指令，实时的对待测DRR4的读写操作，并对写入的数据进行回读校验，甄别单粒子软错误，实现对待测DDR4的单粒子效应的测试。本发明可以广泛应用于单粒子效应测试领域。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 高速 ddr 粒子 效应 评估 系统 方法 | ||
【主权项】：
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