[发明专利]一种软件缺陷预测方法、装置、电子设备及计算机存储介质在审
| 申请号： | 202010222414.4 | 申请日： | 2020-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN111522736A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 张叶迪;李祖德 | 申请（专利权）人： | 中南大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06K9/62 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 肖云 |
| 地址： | 410083 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种软件缺陷预测方法、装置、电子设备及计算机存储介质，该方法先获得原始缺陷数据集，再获得类分布平衡的缺陷数据集，最后构建软件缺陷预测模型，能够获得比单一学习器更好的泛化性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 软件 缺陷 预测 方法 装置 电子设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
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