[发明专利]检测单元有效
| 申请号： | 202010225545.8 | 申请日： | 2020-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN111746638B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 藤田敏博 | 申请（专利权）人： | 株式会社电装 |
| 主分类号： | B62D15/02 | 分类号： | B62D15/02;H02K11/215;H02K11/30;H02K11/33 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王萍;杨林森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种检测单元，具有用于检测根据磁体(875)的旋转引起的磁场变化的检测元件(141、142、241、242)以及用于根据检测元件检测到的物理量计算角度信号(DA1、DB1、DA2、DB2)的角度计算器(151、152、251、252)。此外，存储器(175)存储用于校正角度信号(DA1)的检测误差的多个校正值(A11、A12)，并且另一存储器(275)存储用于校正角度信号(DA2)的检测误差的多个校正值(A21、A22)。异常确定器(172)确定校正值(A11、A12)的异常，另一异常确定器(272)确定校正值(A21、A22)的异常。控制计算器(171、271)通过使用已确定为正常的校正值进行了校正的角度信号(DA1、DA2)执行控制计算。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 单元 | ||
【主权项】：
暂无信息
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