[发明专利]一种用于微纳力测量的力源装置及其实现方法有效

专利信息
申请号: 202010226605.8 申请日: 2020-03-27
公开(公告)号: CN111220309B 公开(公告)日: 2020-07-21
发明(设计)人: 徐立;王淑香;郑培亮;李闯;李倩;童军杰 申请(专利权)人: 广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心)
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00;G01L25/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郭浩辉;麦小婵
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种用于微纳力测量的力源装置及其实现方法,所述装置包括上基板、下基板、微纳力源阵列、弹性支撑结构、以及输出所述微纳力源阵列产生的标准微纳力值的输出探针;所述上基板通过所述弹性支撑结构与所述下基板连接,所述微纳力源阵列布设于所述上基板与所述下基板之间;所述微纳力源阵列包括若干个阵列模块,每一所述阵列模块由一组叉指电容构成,每一组所述叉指电容设于所述上基板与所述下基板之间;且每一所述阵列模块分别与电源相连接。本发明通过改进传统电容式微纳力源装置的结构,能够实现在低电压下输出宽量程、高精度微纳力值的力源。
搜索关键词: 一种 用于 微纳力 测量 装置 及其 实现 方法
【主权项】:
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