[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 202010227927.4 | 申请日: | 2020-03-27 |
公开(公告)号: | CN111755596A | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 小川洋平;上村纮崇 | 申请(专利权)人: | 艾普凌科有限公司 |
主分类号: | H01L43/04 | 分类号: | H01L43/04;H01L43/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 何欣亭;闫小龙 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 半导体装置(1A)具备:半导体衬底(2);包含磁传感部(3a)且设置在半导体衬底(2)的立式霍尔元件(3);以及在半导体衬底(2)的表面侧与磁传感部(3a)分离设置的励磁布线(4),励磁布线(4)由多次环绕而成的单一布线构成,励磁布线(4)具有:多个主布线部(4A),其从与半导体衬底(2)的表面正交的方向俯视观察下,在与磁传感部(3a)重合的重叠区域互相分离且并列配置;以及副布线部(4B),其将多个主布线部(4A)各自互相串联连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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