[发明专利]一种片叉、硅片交接装置及方法在审
申请号: | 202010231271.3 | 申请日: | 2020-03-26 |
公开(公告)号: | CN113451193A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 刘凯;王刚;董洪波 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种片叉、硅片交接装置及方法,其属于半导体技术领域,片叉包括片叉本体,所述片叉本体具有用于吸附硅片的吸附面,所述吸附面上设置有多个出气孔,多个所述出气孔喷出的气体朝所述吸附面外侧倾斜。由于气体的喷射方向倾斜,当吸附某一槽的硅片时,不会导致相邻槽的硅片变形损伤。硅片交接装置包括上述片叉、工作台和移位机构,工作台上形成有负压吸附区,移位机构用于带动片叉移动。硅片交接方法包括出气孔倾斜喷出气体形成正压吸附区,负压吸附区与正压吸附区配合,使得硅片的交接定位准确,硅片不会发生移位现象,提高传送效率和产品精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅片 交接 装置 方法 | ||
【主权项】:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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