[发明专利]一种质子束靶点和束线中心位置测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 202010236443.6 | 申请日： | 2020-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN111399026B | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 朱军高;颜学庆;林晨 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人： | 王岩 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种质子束靶点和束线中心位置测量装置及其测量方法。本发明的测量装置包括N元四极透镜、激光器、靶和闪烁屏；靶和闪烁屏分别位于N元四极透镜的前方和后方，测量质子束经N元四极透镜聚焦后在闪烁屏上的位置，将N元四极透镜变换到M元四极透镜，测量质子束经M元四极透镜聚焦后在闪烁屏上的位置，根据放大倍数和质子束位置，计算出靶点处产生的质子束相对于束线中心的偏移量以及闪烁屏上的束线中心位置；本发明利用N元四极透镜和由N元四极透镜变换的M元四极透镜，结合闪烁屏，利用放大倍数的差异，精确确定束线中心和质子束靶点的位置，从而实现高精度的对心。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 质子 束靶点 中心 位置 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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