[发明专利]硅基缓冲层及其制备方法在审
申请号: | 202010241299.5 | 申请日: | 2020-03-31 |
公开(公告)号: | CN111403557A | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 王丛;刘铭;高达;周立庆 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0392;H01L31/09;H01L31/101 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 张然 |
地址: | 100015*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅基缓冲层及其制备方法。硅基缓冲层的制备方法,包括:获得原子级别洁净的的Si片;依次打开As束流源、Te束流源,对Si片的正面进行钝化;交替打开Zn束流源和Te束流源,在钝化后的Si片的正面外延ZnTe缓冲层;交替打开Zn束流源、Te束流源、CdTe束流源,在ZnTe缓冲层上外延ZnTe/CdTe超晶格缓冲层;打开Te束流源,并对ZnTe/CdTe超晶格缓冲层进行高温退火热处理。采用本发明,采用Te和Zn两个独立原料束流源进行外延,与外延后的退火工艺相结合,抑制了孪晶的形成有效地简化了工艺步骤,从而很大程度上提高了外延的效率。对三代大面阵红外焦平面材料的发展有基础性的贡献。 | ||
搜索关键词: | 缓冲 及其 制备 方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的