[发明专利]免疫芯片的质量检测方法在审
| 申请号： | 202010245737.5 | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN111458494A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 刘浩男;殷雨丹 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/533 | 分类号： | G01N33/533 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 柴亮;姜春咸 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例提供了一种免疫芯片的质量检测的方法，所述免疫芯片至少部分表面为修饰有修饰基团的修饰表面，所述方法包括：在所述免疫芯片的修饰表面上施加含有标记抗体的检测液，所述标记抗体为连接有标记物质的抗体，且所述标记抗体能与所述修饰基团反应而连接在修饰基团上；移除未与所述修饰基团反应的标记抗体，检测所述修饰表面上的标记抗体的残留含量；根据所述标记抗体的残留含量判断所述免疫芯片的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 免疫 芯片 质量 检测 方法 | ||
【主权项】：
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