[发明专利]常温下温度传感器输出斜率测试方法有效
| 申请号： | 202010246251.3 | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN113465784B | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 白玮;于翔;谢程益 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 常温下温度传感器输出斜率测试方法，通过在带隙基准产生电路中设置分压电阻和双模式测试开关组合，以改变连接运算放大器正向输入端的正温度系数电压，能够在同样的常温条件下测试到温度传感器输出电压端的两次不同输出电压值，并通过这两次不同输出电压值确定温度传感器输出斜率，避免了对温度传感器芯片的高温加热，从而有利于降低测试成本和提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 常温 温度传感器 输出 斜率 测试 方法 | ||
【主权项】：
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