[发明专利]一种基于双参考平面的快速大范围相位解包裹方法有效
| 申请号： | 202010248074.2 | 申请日： | 2020-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN111524173B | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 金一;段明辉;郑亚兵;孙正;陈恩红;吕盼稂 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G06T7/55 | 分类号： | G06T7/55;G06T17/00;G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 邓治平 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 发明公开了一种基于双参考平面的快速大范围相位解包裹方法，包括：(1)确定需要测量的空间范围，按照先后顺序利用相位轮廓术分别获得最近参考平面和最远参考平面的包裹相位，利用时间解包裹方法解得两个参考平面的绝对相位图；(2)计算物体的包裹相位图和调制投影图；(3)利用最远参考平面的绝对相位图解开物体的包裹相位，得到物体的候选绝对相位图；(4)物体的候选相位图和调制投影图进行边缘检测，对解包裹进行分类；(5)对于解包裹失败类，通过生成虚拟的自适应参考平面相位为其提供解相位参考，将解包裹相位图转换到解包裹歧义类；(6)进行绝对相位图修正，得到真实的绝对相位图。本发明适合于大范围运动物体的高速三维结构光重建。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 参考 平面 快速 范围 相位 包裹 方法 | ||
【主权项】：
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