[发明专利]一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法有效
| 申请号： | 202010249952.2 | 申请日： | 2020-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN111352060B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 曹勇;文红;涂杨;陈长伟;罗奇 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 成都巾帼知识产权代理有限公司 51260 | 代理人： | 邢伟 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法，包括以下步骤：S1.初始化时域反射计，使其能够测量并显示出校准件的全部长度；S2.选择校准模式：测试开始前，先选择采用开路校准模式或是端接校准模式进行校准；S3.选择校准通道：首先选择其中一个通道进行校准，并保存校准过程中得到的校准参数，完成当前通道的校准：S4.选择另一个通道，完成对另一个通道的校准；S5.开始测试：选定使用开路校准模式或是端接校准模式下的参数，在相应的模式下对被测件进行测试，得到测量波形，计算出被测件特性阻抗。本发明解决了多重反射导致的数据异常问题，并通过等效计算得到更准确的入射电压幅度值，能够大幅降低测量误差，提高时域反射计的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 时域 反射 特性 阻抗 参考 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010249952.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种曲线进给机构
- 下一篇：用于硅墨烯保温板的限位部件及包含其的硅墨烯保温板
