[发明专利]残迹确定方法、装置和电子设备在审
| 申请号： | 202010250328.4 | 申请日： | 2020-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN111461016A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 钟玲 | 申请（专利权）人： | 联想（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种残迹确定方法、装置和电子设备，在该方法中，获取待分析的至少两个第一图像样本，该至少两个第一图像样本为同一样本对象的图像；按照像素点的位置分布，分别对该至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点进行信息叠加，得到叠加后的第二图像样本；如该第二图像样本中属于第一特征类别的像素点满足条件，则确定该至少两个第一图像样本属于残迹图像。本申请的方案可以适用于不同类型的残迹检测，能够更为全面的实现残迹检测。 | ||
| 搜索关键词： | 残迹 确定 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联想（北京）有限公司，未经联想（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010250328.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
