[发明专利]存储性能测试分析方法及系统在审
| 申请号： | 202010254948.5 | 申请日： | 2020-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN113496749A | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 本條嵩騎;纪亮 | 申请（专利权）人： | 深圳星火半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 谢曲曲 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南山区西丽街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种存储性能测试分析方法，其包括：获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据；根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据。其优点是：通过对固态存储产品运行过程中的协议报文数据进行采集分析得到存储性能数据，存储性能数据由于是以协议报文数据为基础，因此可以达到细粒度级别的性能分析要求。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 性能 测试 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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