[发明专利]一种硅片的抛光后清洗方法有效

专利信息
申请号: 202010258268.0 申请日: 2020-04-03
公开(公告)号: CN113496868B 公开(公告)日: 2023-03-10
发明(设计)人: 张俊宝;陈猛 申请(专利权)人: 重庆超硅半导体有限公司;上海超硅半导体股份有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400714 重庆市*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 采用一种混合清洗剂,混合清洗剂由隔离保湿剂、PH调节剂、缓释剂、溶液C组成,混合清洗剂成分的配比范围为:隔离保湿剂5~10wt%、PH调节剂0.5~1.5wt%、溶液94.5~88.5wt%;将上述成分按照其配比范围配置均匀、稳定的混合清洗剂,对抛光后的硅片进行浸没式清洗。混合清洗剂在硅片表面形成一层保护层,防止抛光液残留的斑点发生和不纯物的干燥固着,抑制硅片表面氧化膜的形成,同时捕捉抛光过程中产生的金属离子、防止硅片受到金属污染,硅片与抛光液残留物、金属离子等所有污染颗粒都被混合清洗剂有效包裹起来,防止硅片表面污染,极大地提升抛光与清洗工序的效率、提高产品合格率。
搜索关键词: 一种 硅片 抛光 清洗 方法
【主权项】:
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