[发明专利]一种级联检测中分块优化的方法在审
| 申请号： | 202010264078.X | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN113554651A | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 于晓静 | 申请（专利权）人： | 北京君正集成电路股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/10 | 分类号： | G06T7/10;G06T7/60 |
| 代理公司： | 北京智为时代知识产权代理事务所(普通合伙) 11498 | 代理人： | 王加岭;杨静 |
| 地址： | 100094 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种级联检测中分块优化的方法，所述方法包括以下步骤：S1，将图像分为16块，图像宽的方向分为四块，高的方向分为四块，确定图像金字塔列表里的最后三个；S2，所述16块的分块标准及块移按以下公式计算：(INPUT_W‑WLEN_W)/INC_W+1＝FN_W 公式(1)；(INPUT_H‑WLEN_H)/INC_H+1＝FN_H 公式(2)；INC_W＝(INPUT_W–MIN_OBJECT_SIZE)/FN_W 公式(3)；其中，INPUT_W/INPUT_H为输入图像的宽/高；WLEN_W/WLEN_H为分块的宽/高长度；INC_W/INC_H为块移；FN_W/FN_H是在横向/纵向要分的块数；MIN_OBJECT_SIZE为最小检测物体大小，其保证跨越两块之间的最小物体不漏检。由此，本申请的优势在于：通过分块优化的方式使得级联检测中的效得到大幅提升。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 级联 检测 分块 优化 方法 | ||
【主权项】：
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