[发明专利]校正分析传感器测量数据的方法和校正测量数据的传感器在审
| 申请号： | 202010264383.9 | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN111795715A | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·汉克 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚传江 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于校正分析传感器的测量数据的方法和校正测量数据的传感器。该方法包括以下步骤：提供具有第一传感器单元(2)、数据存储器(3)、和计算单元(4)的分析传感器(1)，其中，数据存储器(3)具有传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据，其表示分析传感器(1)的预定应用领域；通过第一传感器单元(2)收集测量数据；通过计算单元(4)从数据存储器(3)中读取传感器特定的参数数据；通过计算单元(4)借助于传感器特定的参数数据校正收集的测量数据，以便生成校正的测量数据。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 分析 传感器 测量 数据 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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