[发明专利]一种集成电路测试不良品芯片处理设备在审
| 申请号： | 202010266431.8 | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN111482249A | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 饶正盛 | 申请（专利权）人： | 饶正盛 |
| 主分类号： | B02C18/14 | 分类号： | B02C18/14;B02C4/26;B07B1/28;B07B1/42 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201616 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路测试不良品芯片处理设备，其结构包括控制箱、减速电机、粉碎箱、粉碎刀架、筛分结构、支撑脚架，控制箱与减速电机电连接，本发明通过设置研磨过滤器，从而实现塑料与金属完全的分离开来，方便对金属进行重新回收使用，通过设置振动结构，转动轴杆在连接盘上进行转动，从而使转动轴杆上的凸轮在孔板上的孔中进行转动，使得孔板能够进行上下移动，从而让支撑座随其进行上下移动，且在缓冲支架辅助的作用下，使得支撑座上的撞击柱对研磨过滤器进行撞击，使研磨过滤器在撞击的作用下，产生振动，使得研磨过滤器上的粉末能够快速的掉落下来，以此加快研磨的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 不良 芯片 处理 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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