[发明专利]光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法有效
| 申请号： | 202010266765.5 | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN111478729B | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 邹卫文;钱娜;邓晓;石慧;李杏 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04J14/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法，基于光子学技术，通过输入光模数转换系统不同频率的被采样信号，测量得到光模数转换系统的通道响应曲线。通道响应曲线中，位于不同奈奎斯特区间的输出信号功率的极差能够反映出解复用模块的性能。不同奈奎斯特区间的输出信号功率的极差越小，则解复用模块的性能越好。该方法适用于基于不同解复用原理的解复用模块，并且极大的简化了光模数转换系统中解复用模块性能的测试流程。该方法有望为下一代光模数转换芯片的优化设计和性能测试提供更为简单有效的手段。 | ||
| 搜索关键词： | 光模数 转换 系统 中解复用 模块 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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