[发明专利]一种多光谱辐射测温方法及系统有效
| 申请号： | 202010269410.1 | 申请日： | 2020-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN111562019B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 李天娥;苗洋;程旭亮 | 申请（专利权）人： | 太原理工大学 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10;G01J5/08 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 030024 *** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种多光谱辐射测温方法及系统，涉及热辐射测温和热辐射特性测量技术领域。该方法包括：利用探测器装置得到测量温度；利用多光谱测温原理确定的测量温度、被测目标的真实温度和被测目标的光谱发射率之间的关系确定全局优化函数；初始化真实温度和光谱发射率；通过温度初始值和发射率初始值对全局优化函数进行迭代，得到被测目标的等温区域的最优真实温度和最优光谱发射率。本发明针对非均温的被测目标温度场分布，利用不同温度区域的多个光谱辐射测量信息，配合全局优化函数计算获得被测目标的温度场和光谱发射率分布，测量精度高，尤其适用于高温、高速和高焓的恶劣测量环境。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 辐射 测温 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太原理工大学，未经太原理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010269410.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
