[发明专利]临近检测方法及临近检测键盘在审
申请号: | 202010272919.1 | 申请日: | 2020-04-09 |
公开(公告)号: | CN113076008A | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 张怀祖;冯古雄;张嘉显;林文祥 | 申请(专利权)人: | 美商矽成积体电路股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/02 | 分类号: | G06F3/02;H03K17/955 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 聂慧荃;闫华 |
地址: | 美国加利福尼亚州*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种临近检测方法及临近检测键盘,其中临近检测方法用以检测使用者是否临近临近检测键盘,临近检测键盘包含多个电极及至少一接地元件,接地元件与所述多个电极对应设置,临近检测方法包含等效电容检测步骤及临近事件判定步骤。等效电容检测步骤是检测各电极的等效电容,其中各电极与使用者产生临近电容,各电极与对应的接地元件产生寄生电容,各电极的等效电容是依据对应的临近电容及对应的寄生电容而定义。临近事件判定步骤是比较电极中至少一者的等效电容与对应的电容阈值,以判定是否存在临近事件,其中电极分别对应预先设定的电容阈值。借此,实现临近检测功能。 | ||
搜索关键词: | 临近 检测 方法 键盘 | ||
【主权项】:
暂无信息
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