[发明专利]一种高低压耦合机理的测试系统及测试方法有效
申请号: | 202010273116.8 | 申请日: | 2020-04-09 |
公开(公告)号: | CN111308258B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 郁召锋;涂文特;姜峻岭;孙玮瞳;周艳新;贾振宇;王青松 | 申请(专利权)人: | 上海捷氢科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/36;G01R31/378;G01R1/18 |
代理公司: | 北京信远达知识产权代理有限公司 11304 | 代理人: | 赵兴华 |
地址: | 201804 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种高低压耦合机理的测试系统及测试方法,其中,所述高低压耦合机理的测试系统通过第一高压隔离设备、第二高压隔离设备分别实现高压直流电源、负载箱和受试设备的隔离,避免高压直流电源和负载箱自身的干扰影响测试结果,通过低压隔离设备实现接收设备、低压直流电源和所述受试设备之间的隔离,避免接收设备和低压直流电源自身的干扰影响测试结果,通过所述接收设备测试所述受试设备的干扰曲线实现测试受试设备的高压电路工作过程中产生的高压干扰耦合进入低压干扰后的衰减特性,进一步研究受试设备中高压电路的高低压耦合机理,指导高压电路的高低压耦合设计,从而达到提高受试设备的整体电磁兼容性能的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 低压 耦合 机理 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
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