[发明专利]漆面厚度的测量方法、装置及漆膜仪有效
| 申请号： | 202010283394.1 | 申请日： | 2020-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN111521142B | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 高建磊;张金钰;沈卓立;方流 | 申请（专利权）人： | 金瓜子科技发展（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08;G01C9/00;G01B21/04;G01M17/007;G01C5/06;G01S5/02 |
| 代理公司： | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人： | 邓超 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种漆面厚度的测量方法、装置及漆膜仪，该方法包括：响应用户针对显示界面展示的部位标识的选择操作，确定待测量的目标部位和目标部位对应的漆膜仪姿态；确定漆膜仪在当前测量时刻和当前测量时刻的前一测量时刻之间的位移变化量；其中，漆膜仪在当前测量时刻所处的第一位置和在前一测量时刻所处的第二位置均位于目标部位上；如果漆膜仪的当前姿态与目标部位对应的漆膜仪姿态相匹配，且位移变化量大于预设的位移阈值，对目标部位上第一位置处的漆面厚度进行测量，得到当前测量时刻对应的漆面测量结果。本发明可以有效提高漆面厚度测量结果的可信度。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度 测量方法 装置 漆膜 | ||
【主权项】：
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