[发明专利]一种CT本体二次回路校验方法在审
| 申请号： | 202010286587.2 | 申请日： | 2020-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN111413657A | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 周亚群;张钢;都劲松;曹浩军;吕尚霖;周昭亮;李静 | 申请（专利权）人： | 西安热工研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/02 | 分类号： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 房鑫 |
| 地址： | 710032 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种CT本体二次回路校验方法，包括以下步骤：通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的正向加压校验工作；判断CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致，当一致时，则CT回路校验工具进行CT本体二次回路的反向加压校验工作，当不一致时，则查找并消除CT本体二次回路缺陷；判断CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致，当一致时，说明CT本体二次回路接线正确可靠，否则，则查找并消除CT本体二次回路缺陷，该方法能够准确校验CT本体二次回路接线是否正确可靠，且，工作强度较低，校验时间较短。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ct 本体 二次 回路 校验 方法 | ||
【主权项】：
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