[发明专利]基于MIM环形格点阵列的表面等离激元折射率传感器在审

专利信息
申请号: 202010287312.0 申请日: 2020-04-14
公开(公告)号: CN111504947A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 杨宏艳;陈昱澎;刘孟银 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开了一种基于MIM环形格点阵列的表面等离激元折射率传感器。在本发明实例中,传感器由介质基底和具有周期性的环形MIM纳米颗粒阵列构成。入射光电场沿坐标X轴偏振,其波失K与入射面存在夹角θ。通过调控MIM格点阵列的几何参数及入射角度,激发表面等离激元格点共振,实现反射谱共振峰随着折射率的变化相应的发生偏移。与其他结构的折射率传感器相较而言,该结构拥有着更较小的尺寸及更高的灵敏度,在微纳尺度的光电探测器领域具有着极好的应用前景。
搜索关键词: 基于 mim 环形 阵列 表面 离激元 折射率 传感器
【主权项】:
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