[发明专利]基于MIM环形格点阵列的表面等离激元折射率传感器在审
申请号: | 202010287312.0 | 申请日: | 2020-04-14 |
公开(公告)号: | CN111504947A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 杨宏艳;陈昱澎;刘孟银 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 541004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于MIM环形格点阵列的表面等离激元折射率传感器。在本发明实例中,传感器由介质基底和具有周期性的环形MIM纳米颗粒阵列构成。入射光电场沿坐标X轴偏振,其波失K与入射面存在夹角θ。通过调控MIM格点阵列的几何参数及入射角度,激发表面等离激元格点共振,实现反射谱共振峰随着折射率的变化相应的发生偏移。与其他结构的折射率传感器相较而言,该结构拥有着更较小的尺寸及更高的灵敏度,在微纳尺度的光电探测器领域具有着极好的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 基于 mim 环形 阵列 表面 离激元 折射率 传感器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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